Roll to Roll 연속 결함 검출 및 무학습 검수를 위한 AI 파운데이션 모델 개발

Development of an AI Foundation Model for Roll-to-Roll Continuous Defect Detecting and Training-Free Inspection

기존 패치(Patch) 기반 AI의 연속성 손실과 긴 결함 검출 한계를 근본적으로 극복하는, 라인스캔(Line Scan) 파운데이션 모델 기반 롱 컨텍스트(Long Context) 추론 AI를 개발한다. 기존 상용 및 학계 모델은 라인스캔 이미지를 다수의 패치로 분할해 각각 독립적으로 추론하기 때문에, 여러 패치에 걸쳐 길게 이어지는 결함은 조각마다 신호가...